钨探针（Nanomanipulation Probe Tips）

产品介绍

钨探针是一类用于高精度微纳操作、电学测试或原位表征的关键工具，广泛应用于半导体测试、纳米技术、材料科学和生物医学工程等领域。

典型几何参数：

1. 针尖半径：≤ 0.5 μm（部分产品标称 0.5 μm）

2. 锥角：8–13°（常见为 10° 左右）

3. 材质：高纯度钨（W）或铼钨合金（ReW，含 3–25% Re）

这类针尖通常安装在标准探针臂上（如 ½" Xtreme Access 接口），便于集成到各类精密测试平台。

Omniprobe公司提供扫描电子和离子束显微镜纳米实验设备，处于行业领先水平。钨探针针尖由Omniprobe公司生产。