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70nm超高分辨率校准标样(for AFM、SEM、Auger和 FIB)

条纹70nm间距,一维排列,精确到±0.25nm。分带证书和不带证书两类。带有证书的间距需要参考证书上的实际数字。精确全息条纹适用于超高分辨率显微镜(25kx-1000kx)的水平方向的精确校准,以及纳米尺度上准确校准仪器等等。具有高稳定性和高适用性特性。

硅片大小:4×3×0.5mm,图案二氧化硅制造(脊宽35nm,高35nm,此参数无校准)。

提供的产品有两种型号:Model 70-1DModel 70-1DUTC。其中的Model 70-1D校准标样, 带有制造商的认证, 不可溯源;Model 70-1DUTC校准标样, 认证, 可溯源, 提供证书(PTB,a German counterpart of NIST)。

 

订购信息:

货号

产品名称

规格

80127-1D

Model 70-1D, Calibration standard, Unmounted

80127-1D-X

同上,可以提供带销钉样品台的;或者专供AFM的(15mm不锈钢disk);或者指定样品台

80127-1DC

Model 70-1DUTC,带有证书,Umounted

80127-1DC-X

同上,可以提供带销钉样品台的;或者专供AFM的(15mm不锈钢disk);或者指定样品台

 

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