用于扫描电镜放大倍数校准（同时评估图象扭曲度），也可用于光学显微镜。5mm x 5mm见方，每10µm (0.01mm)有一方格，格与格之间分割线大约为1.9µm宽，每隔500µm有一稍宽的分隔线（便于应用于光学显微镜）；分隔线由光蚀刻形成，约200nm深。不同样品均可以直接置于单晶硅标样上，从而低倍电镜或者光镜进行内部标定。
可根据扫描电镜型号的不同选择试样及所带的样品台。
订购信息：
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货号 |
产品名称 |
规格 |
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79502-01 |
Silicon Test Specimen, Unmounted单晶硅试样 |
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79502-10 |
Silicon Test Specimen, Unmounted |
10/包 |
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79502-12 |
Silicon Test Specimen on 12.5mm Pin Stub |
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79502-20 |
Silicon Test Specimen for Incident LM |
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79502-30 |
Calibration Certificate证书（需另选择硅标样） |
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| 电话 010-52571502 010-51248120 邮箱 hedebio@163.com |
